- P230-H-8G(B) 系列
- 大电流针也称“大电流探针”，其特点是测试电流大，测试条件温度高。主要用于：高温高电流的在线测试领域，如：光伏新能源电池的测试等，具备测试电流大，测试条件温度高的特性。
- P75 系列
- 技术规格简介(Technical Specifications)：最小值中心距(Minimun Center)：1.91mm(75mil) 额定电流(Current Rating)：3.0Amps，Continuous 额定电阻(Contact Resistance)：50mΩ 安装孔径(Mounti……
- P50 系列
- PCB弹簧针主要用于：PCB板的测试，通过线路和线路间电阻或电容的比较来判断线路导通等缺陷。 通常，PCB弹簧针与针套配套使用的，针套：可分为尾部带线及不带线。
- RPM786-V-57GG-M(B) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- PM786-V-472-57GG-M(B) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- RPM652-J4-345-18HG-M(B) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- RPM652-A-18GG-M(B) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- RPM580-V-21GGM(B) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- PM400-A-244-9.6GG(B) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- PM380-A-355-15SG(BB) 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- 6.70×2.0×0.12 系列
- 弹片测试针简称“弹片针”，也称“刀片针”。其具备能应对更小pitch、测试效率高、稳定性高、寿命长等特性，起到传送信号和导通电流的作用。主要用于手机、芯片、屏幕等精密间距连接器的测试。
- 6.60×2.0×0.06 系列
- 弹片测试针简称“弹片针”，也称“刀片针”。其具备能应对更小pitch、测试效率高、稳定性高、寿命长等特性，起到传送信号和导通电流的作用。主要用于手机、芯片、屏幕等精密间距连接器的测试。
邮箱
- sale@centalic.com.hk
微信
电话
- 0755-27494785
手机
- 158-1734-5903
客服
TOP
