- SCFA160 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCFA058 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCFB497 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCFB068 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SWP165-HQ30-456-5MG(B) 系列
- 线束针主要用于汽车线束测试和直接使用，也有部分产品应用于通信电子、医疗设备、设备自动化等领域。其产品标准及要求高于其它系列测试针。线束针种类：螺纹/非螺纹线束针、线束--开关针、线束--大电流针等。
- SCFB060 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SWP265-A-435-8MG(B) 系列
- 线束针主要用于汽车线束测试和直接使用，也有部分产品应用于通信电子、医疗设备、设备自动化等领域。其产品标准及要求高于其它系列测试针。线束针种类：螺纹/非螺纹线束针、线束--开关针、线束--大电流针等。
- SWP137-C6-6.5G(B) 系列
- 线束针主要用于汽车线束测试和直接使用，也有部分产品应用于通信电子、医疗设备、设备自动化等领域。其产品标准及要求高于其它系列测试针。线束针种类：螺纹/非螺纹线束针、线束--开关针、线束--大电流针等。
- SCFB056 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCFB052 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SWP164-F-446-3.5GG(B) 系列
- 线束针主要用于汽车线束测试和直接使用，也有部分产品应用于通信电子、医疗设备、设备自动化等领域。其产品标准及要求高于其它系列测试针。线束针种类：螺纹/非螺纹线束针、线束--开关针、线束--大电流针等。
- SWP298-F-490-7G(B) 系列
- 线束针主要用于汽车线束测试和直接使用，也有部分产品应用于通信电子、医疗设备、设备自动化等领域。其产品标准及要求高于其它系列测试针。线束针种类：螺纹/非螺纹线束针、线束--开关针、线束--大电流针等。
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