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- SCPA095 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前,先得利可加工最……
- SCPA085 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPA084 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPA083 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPC102 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPA082 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
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- SCPC090 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPC078 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPC070 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPA081 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPC058 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前,先得利可加工最……
- SCPA078 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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